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國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)目錄－－電工
電工
GB/T 16499—1996編制電氣安全標(biāo)準(zhǔn)的導(dǎo)則
GB 7228—1987電解整流設(shè)備的整流效率及其供電對(duì)象的電能利用率測(cè)算方法
GB 12497—1995三相異步電動(dòng)機(jī)經(jīng)濟(jì)運(yùn)行
GB 156—1993標(biāo)準(zhǔn)電壓
GB/T 762—2002標(biāo)準(zhǔn)電流等級(jí)
GB/T 1980—1996標(biāo)準(zhǔn)頻率
GB/T 2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分:總則
GB/T 2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB/T 2423.1—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.5—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
GB/T 2423.6—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞1
GB/T 2423.7—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品)
GB/T 2423.8—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T 2423.9—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱
GB/T 2423.10—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)
GB/T 2423.11—1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)一般要求
GB/T 2423.12—1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13—1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14—1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉
GB/T 2423.17—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法
GB/T 2423.18—2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:┭撾恚交變(氯化鈉溶液)
GB/T 2423.19—1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.20—1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.21—1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) M:低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.22—2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 2423.23—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封
GB/T 2423.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T 2423.25—1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.26—1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫／┑推壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.27—1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.28—1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法
GB/T 2423.29—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2423.30—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB/T 2423.32—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
GB/T 2423.33—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.34—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD:溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
GB/T 2423.35—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.36—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.37—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) L:砂塵試驗(yàn)方法
GB/T 2423.38—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) R:水試驗(yàn)方法
GB/T 2423.39—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法
GB/T 2423.40—1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法
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